超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀|上海凱美特功能陶瓷技術有限公司

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	超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀	超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理，即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光束來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm -1000 um。一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度MProbe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢測，研發使用。

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